LCP-27 Мерење на интензитетот на дифракција

Краток опис:

Експерименталниот систем е главно составен од неколку делови, како што се експериментален извор на светлина, дифракциска плоча, снимач на интензитет, компјутер и оперативен софтвер. Преку компјутерски интерфејс, експерименталните резултати можат да се користат како додаток за оптичка платформа, а може да се користи и како самостоен експеримент. Системот има фотоелектричен сензор за мерење на интензитетот на светлината и сензор за поместување со висока точност. Решеткастиот линијар може да го мери поместувањето и прецизно да ја мери распределбата на интензитетот на дифракцијата. Компјутерот го контролира собирањето и обработката на податоци, а резултатите од мерењето можат да се споредат со теоретската формула.

Испратете ни е-пошта

Детали за производот

Ознаки на производи

Експерименти

1. Тест на дифракција со еден процеп, повеќе процепи, порозна и повеќеправоаголна дифракција, законот за интензитет на дифракција се менува со експерименталните услови

2. Компјутер се користи за снимање на релативниот интензитет и распределбата на интензитетот на еден процеп, а ширината на дифракцијата на еден процеп се користи за пресметување на ширината на еден процеп.

3. Да се набљудува распределбата на интензитетот на дифракцијата на повеќекратни процепи, правоаголни дупки и кружни дупки

4. Да се набљудува Фраунхоферовата дифракција на еден процеп

5. Да се одреди распределбата на интензитетот на светлината

Спецификации

Ставка	Спецификации
Хе-Не ласер	>1,5 mW на 632,8 nm
Еднопроцеп	0 ~ 2 mm (прилагодливо) со прецизност од 0,01 mm
Опсег на мерење на слика	Ширина на процепот од 0,03 mm, растојание помеѓу процепите од 0,06 mm
Проективна референтна решетка	Ширина на процепот од 0,03 mm, растојание помеѓу процепите од 0,06 mm
CCD систем	Ширина на процепот од 0,03 mm, растојание помеѓу процепите од 0,06 mm
Макро објектив	Силиконска фотоќелија
Напон на наизменична струја	200 мм
Точност на мерење	± 0,01 мм