Претставена слика од експерименталниот елипсометар LCP-25

Експериментален елипсометар LCP-25

Краток опис:

Рачниот елиптичен полариметар го користи методот на екстинкција за мерење на дебелината и индексот на прекршување на филмот, а рачно го регулира отстапувањето и аголот на отстапување на процесот на тестирање. Елипсометријата е широко користена во мерењето на тенок диелектричен филм на цврста подлога. Во методот на мерење на дебелината на филмот, таа може да се измери со најтенка и највисока прецизност.

Испратете ни е-пошта

Детали за производот

Ознаки на производи

Спецификации

Опис	Спецификации
Опсег на мерење на дебелина	1 nm ~ 300 nm
Опсег на агол на инцидент	30º ~ 90º, Грешка ≤ 0,1º
Агол на пресекот на поларизатор и анализатор	0º ~ 180º
Аголна скала на дискот	2º по скала
Минимално читање на Верние	0,05º
Висина на оптичкиот центар	152 мм
Дијаметар на работната фаза	Φ 50 мм
Вкупни димензии	730x230x290 мм
Тежина	Приближно 20 кг

Список на делови

Опис	Количина
Елипсометарска единица	1
Хе-Не ласер	1
Фотоелектричен засилувач	1
Фото ќелија	1
Силикатна фолија на силиконска подлога	1
ЦД со софтвер за анализа	1
Упатство за употреба	1