Експериментален елипсометар LCP-25

Краток опис:

Рачниот елипсовиден полариметар го користи методот на изумирање за мерење на дебелината и индексот на прекршување на филмот и рачно го регулира аголот на отстапување и отстапување на процесот на тестирање.Елипсометријата е широко користена за мерење на диелектрични тенок филм на цврста подлога.Во методот на мерење на дебелината на филмот, тој може да се мери со најтенок и највисока прецизност.

Испратете ни е-пошта

Детали за производот

Ознаки на производи

Спецификации

Опис	Спецификации
Опсег на мерење на дебелина	1 nm ~ 300 nm
Опсег на агол на инцидент	30º ~ 90º, Грешка ≤ 0,1º
Агол на пресек на поларизатор и анализатор	0º ~ 180º
Аголна скала на дискот	2º по скала
мин.Читање на Верние	0,05º
Оптичка централна висина	152 мм
Дијаметар на работната фаза	Φ 50 mm
Севкупни димензии	730x230x290 mm
Тежина	Приближно 20 кг

Листа на делови

Опис	Количина
Елипсометарска единица	1
He-Ne ласер	1
Фотоелектричен засилувач	1
Фото ќелија	1
Силика филм на силиконска подлога	1
ЦД со софтвер за анализа	1
Упатство за употреба	1